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▲ 断面プロファイル
▲ 3D表示機能
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MCIS検査装備はMLCC, MLCI, Array, Chip-R, Varistor, Thermistorなどのチップ部品外観検査装置です。
ハード部
高速検査対応！
モデルMCIS-1800 1800個/分 モデルMCIS-2800 2800個/分
多種・多様な欠陥検出能力！
外形寸法・表面状態・電極欠陥・色むら、色あせ等
多種類のサイズに対応！
0603,1005,1608,2012,3216,4542(mm)各サイズ
省スペース！
840W×870D×1750H (MCIS-1800)
低ランニングコスト！
交換部品が少ない為、維持費が抑えられる
ソフト部
直感的でわかりやすいユーザーインターフェース
豊富な解析機能
操作性
イージーオペレーション
容易なパラメーター設定
タッチメニュー
リアルタイムモニタリング
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半導体とならぶ韓国の代表的な先端技術産業としてLCD,OLED等に代表されるFPDがあげられます。これらは柔軟な大量生産システムにより飛躍的な発展を遂げてきており、その大量生産システムを支えているのが効率的な検査工程にあります。
ここでご紹介しますFPD検査装置はRTS社の今までの経験・Know-Howを結集させた極めて効率の高いシステムであり、量産工場でのCell工程及びModule工程におけるカラーパターン画質検査、外観検査、輝度検査、電気テスト等の各検査装置をそれぞれ低価格、ハイスループットで実現した極めてコストパフォーマンスに優れた装置でございます。
| ハード部 |
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コンパククト設計 |
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750W×780L×1485H(mm) 300kg |
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検査範囲 |
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スタンダードLCDモジュール 1.8〜2.03inch
2.03inch以上の場合はカメラ交換で対応 |
| ソフト部 |
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微細欠陥検出可能
直感的でわかりやすいユーザーインターフェース |
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▲ LCDモジュール治具
パターンジェネレータ
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▲ パターン検査 |
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暗室
高分解カメラ
（2台内蔵）
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| 検査項目 |
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Inspection ITEM |
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Contents |
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DD Short |
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Data Line Short |
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DL Open |
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Data Line Short |
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GG Short |
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Gate Line Short |
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GL Open |
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Gate Line Open |
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Non-Display |
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Non Display |
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Abnormal Display |
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Strange Picture Displayed |
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High-Dot |
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Brightness of one more picture |
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element |
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Dark-Dot |
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Darkness of one more picture |
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element |
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Stained on the Back Light |
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Between Back Light and Glass |
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Contamination on the Back Light |
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Between Back Light and Glass |
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Stained on the Pol. |
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Between Glass and Pol. |
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Flickering |
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Flickering of Display |
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このRTS-320KはBGA、QFP、TSOP、J-LEAD、Guli-Wing、等のパッケージのチップスケールを高速ハンドラーにより多種類の検査項目を組み合わせた測定が可能です。
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項目 |
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仕様 |
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外形寸法 |
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1600(W)×1640(D)×1700(H) |
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トレイサイズ |
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315(L)×136(W) |
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3-D検査モジュール |
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俯瞰図 |
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レール搬送 |
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レール搬送での不良/良品判定、2rails仕様可能 |
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トレイ反転機構 |
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1反転ユニット |
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UPH |
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20,000ユニット/h |
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コントローラー |
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PCインターフェース |
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トレイ動作 |
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前面ローダー搬送 |
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アプリケーション |
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2D/3D自動外観検査、マーキング検査、Trim,Form検査、Bumping検査、断面、配置検査、CSP検査、ウェハー検査
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